Was sind die Funktionen von IKT-Tests?

I. Die allgemeinen Funktionen von IKT-Tests

1. Die SMT-SMD-Fabrik kann innerhalb von Sekunden alle Teile auf der bestückten Leiterplatte erkennen, wie z. B. Widerstände, Kondensatoren, Induktivitäten, Trioden, Feldeffektröhren, Leuchtdioden, gemeinsame Dioden, Spannungsreglerdioden, Optokoppler, ICs usw. Die Teile Arbeiten Sie innerhalb der Designspezifikation.

2. Es ist möglich, Fehler im PCBA-Produktionsprozess wie Kurzschlüsse, unterbrochene Schaltkreise, fehlende Teile, vertauschte Verbindungen, falsche Teile, leere Lötstellen usw. im Voraus zu ermitteln und dem Prozess Feedback zur Verbesserung zu geben.

3. Die oben genannten Fehler oder Testergebnisse können ausgedruckt werden, einschließlich Fehlerort, Teilestandardwerte und Testwerte, auf die sich das Wartungspersonal beziehen kann.Die Abhängigkeit des Personals von der Produkttechnik kann effektiv reduziert werden.Auch wenn das Personal keine Erfahrung mit SMT-Produktionsschaltungen hat, ist es dennoch in der Lage, einen Beitrag zu leisten.

4. Testfehler können ermittelt werden und SMT-Prozessoren können die Informationen analysieren, um die Ursache des Fehlers, einschließlich menschlicher Faktoren, zu ermitteln.Auf diese Weise können sie die Fertigungs- und Qualitätsfähigkeiten der Leiterplatten ansprechen, korrigieren und verbessern.
 
II.Besonderheiten bei IKT-Tests

Techniken zur Polaritätsprüfung von Elektrolytkondensatoren:

Elektrolytkondensatoren verpolt angeschlossen, fehlende Teile 100 % prüfbar. Parallele Elektrolytkondensatoren verpolt angeschlossen, fehlende Teile 100 % prüfbar

Funktionsprinzip der Polaritätsprüftechnologie für Elektrolytkondensatoren:

1. SMTDie Chip-Verarbeitungsfabrik besteht darin, mit dem dritten Bein an der Oberseite des Elektrolytkondensators ein Triggersignal anzulegen und das Antwortsignal zwischen dem dritten Punkt und dem positiven oder negativen Pol zu messen.

2. Nach der Berechnung mit DSP-Technologie (Digital Signal Processing) wird es durch DFT (Discrete Fourier Transform) und FFT (Fast Fourier Transform) in einen Satz von Vektoren umgewandelt.Das erhaltene Antwortsignal wird vom t-Bereich (Zeit) (Oszilloskopsignal) in einen Satz von Vektoren im f-Bereich (Frequenz) (Spektrumanalysatorsignal) umgewandelt.

3. Durch Lernen wird ein Satz von Standardvektorwerten erhalten und dann werden die gemessenen Werte des DUT (zu testendes Gerät) mit den ursprünglichen Standardwerten verglichen, indem Pattern Match (Merkmalserkennungs- und Vergleichstechnik) verwendet wird, um zu bestimmen, ob die Polarität des DUT (Gerät unter Test) mit den ursprünglichen Standardwerten verglichen wird Das zu testende Objekt ist korrekt.

Pattern Match wird in Anwendungen wie der Fingerabdruckerkennung, der Erkennung gefälschter Währungen und der Netzhauterkennung verwendet.

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Zeitpunkt der Veröffentlichung: 09.05.2023

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